接觸式化學冷光成像儀e-BLOT WB/SDS-Pages Touch Imager

Western Blots & SDS-PAGEs

接觸式成像的技術特點:
1. 絕不輕易丟失任一訊號
2. 超高靈敏度 (更加表現在低光強度下時)
3. 寬廣的動態範圍
4. 高全井能力 (full-well)
5. 數字化更易於後期的解析
6. 緊湊的設計體積, 更節省空間

帶有CCD感應器的相機鏡頭

• 較低等級的動態範圍

• 需要多重曝光以取得所需的影像

• 影像可見前需要專用的暗房室和薄膜處理過程

攝影膠片成像器

• 會損失99%的訊號而降低其靈敏度

• 對微弱訊號的長時間曝光會導致相機雜訊的背景值增加而影響整體的訊雜比

• 需要規劃更大的使用空間

e-Blot 與傳統的原理差別

左邊的圖示為e-Blot原理設計, 代表樣品的 PVDF/NC membrane緊貼著X光片 ; 右邊的圖示為傳統的原理設計, 上方相機的感應元件與樣品相隔一定的距離。
由於光的衰減與距離的平方成正比, 假設距離為1:30則衰減程度即為1:900, 代表e-Blot的光率減量非常低, 可更完整的捕獲樣品的訊息。

兩者的結果比較

圖示的第一列為e-Blot所得的結果, 請注意曝光時間只有0.1秒 ; 第二列為傳統的曝光結果, 時間為60秒。
藉由以上的兩列結果可清楚發現e-Blot能在更短的時間內捕獲更多的訊號, 代表的即是超高靈敏度。