單顆粒奈米粒徑/數量濃度/Zeta膜電位分析儀Pulsoid Nanoparticle Analyzer (NPS)

單顆粒奈米粒徑/數量濃度/Zeta膜電位分析儀Pulsoid Nanoparticle Analyzer (NPS)

非光學原理, 不需考慮雷射元件的偏差校正和使用壽命 | 與電子顯微鏡(TEM)結果有高度的一致性 | 最新的固態芯片奈米孔洞技術 | 不需再使用標準品比對結果

最新的固態芯片奈米孔洞技術幾乎沒有使用耗材使用壽命限制
提供多重粒徑分佈樣本的單顆粒超高解析度, 包含粒徑(Size)、濃度(Concentration)和界達膜電位(Zeta potential)
方便上手且使用快速, 大幅提升分析量能和效率(Throughput)
不會重複偵測到同一個奈米粒子, 沒有濃度的誤差
沒有傳統光學技術的水和效應(Hydration effect)偏差
最準確的分析結果, 和TEM結果僅為100%±2%的範圍(NIST認證標準奈米顆粒)

詢問

商品特色 Pulsoid (NPS) 規格

什麼是NPS(Nanopore Pulse Sensing)奈米孔洞脈衝感應?

NPS(Nanopore Pulse Sensing)奈米孔洞脈衝感應是IZON Science原廠最新發表的一種屬於RPS技術範疇之單顆粒奈米粒徑/濃度/Zeta膜電位分析原理, 其將奈米孔洞以專利的方式鑲嵌於矽(Silicon)半導體晶片中(Chip), 屬於固態孔洞的設定, 與可調式奈米孔洞不同的是, NPS的Chip晶片無需做拉伸而是直接插入儀器內使用, 同樣是能提供最精準的奈米單顆粒數據。
當每個奈米顆粒通過固態孔洞時都會引起單獨短暫的電流強度變化, 儀器會記錄下每個變化的訊號稱為blockade(阻抗), 此時blockade阻抗的強度即代表每個奈米顆粒的大小, blockade阻抗出現的效率即代表奈米顆粒的濃度, blockade阻抗出現的滯留時間(duration time)即代表Zeta potential(膜電位), 以上都是真正的particle-by-particle逐個顆粒方式。

IZON Pulsoid (NPS) 單顆粒奈米粒徑/濃度/Zeta膜電位分析儀

IZON Pulsoid Nanoparticle Analyzer (NPS): 輕易簡單的上手操作性與高通量分析效率

IZON Pulsoid 外觀設計相當前衛, 全機以LED燈號提示狀態; 與可調式奈米孔洞相比, Pulsoid (NPS) 採用的固態孔洞方式只需插入流體槽內即可使用, 分析效率大幅提升, 操作更加簡便容易上手, 其所呈現的粒徑/濃度和粒徑/Zeta膜電位數據一樣是無與倫比的準確, 。
Pulsoid 儀器不需要強制每次都需使用標準品比對樣本但其數據和TEM(電子顯微鏡)結果幾乎相同(100% ± 2%), 代表其穩定、高準確性和高重複度且具有高可靠性的分析結果。

Size vs. Conentration 粒徑/濃度分佈

重新定義單顆粒的分析精準度

上圖為Pulsoid(NPS)分析的三種樣本粒徑分佈: LNP 樣品、NIST 可溯源的 80 nm 聚苯乙烯標準品和 100 nm 羧基化聚苯乙烯標準品，均使用同一晶片進行測量; 所得的粒徑分佈圖可以非常清楚分辨出差異。
Pulsoid 系統透過固態奈米孔洞進行每一個單顆粒的測量，無需仰賴於整體的平均訊號與計算即可提供高解析度的粒徑分佈和基於顆粒計數的真實濃度測量結果。
這種單顆粒的測量方法能夠顯示出通常被整體平均的測量方法所掩蓋的亞群和細微的分佈變化從而更清晰地了解製劑的品質、穩定性和製程一致性。

高重複性與高精確度的粒徑分析

上圖為經過製造商評估並聲稱其 TEM 尺寸為 70 nm 和 80 nm 的 NIST 可追朔羧基化聚苯乙烯顆粒, Pulsoid 分析後的平均粒徑分為 TEM 值的 101.4% 和 99.7%(兩者均為 n = 6，±標準誤差); 顯示Pulsoid分析的結果變異非常之小。
固態的矽芯片奈米孔洞採用高精密工藝製作, 可表現出高精度的粒徑分析結果, 固定的孔徑型態能降低可調式孔洞帶來的變異因子並確保了不同樣本之間有可靠且重複的分析結果。
使用可追朔的美國國家標準與技術研究院 (NIST) 顆粒標準品, 已驗證其有 100%±2% 的粒徑精度且結果與電子顯微鏡(TEM)的參考值有高度吻合, 對於具多分散性的樣品特性，此精度仍有一致性從而確保測量結果反映的是顆粒粒徑的真實差異，而非測量誤差造成。

基於真實的奈米顆粒計數定量結果

右圖為對羧基化聚苯乙烯顆粒進行了5種稀釋度的測量，結果顯示測量濃度與稀釋倍數之間存在非常好的線性關係。

Pulsoid (NPS) 採用的是直接顆粒計數法, 可在較寬濃度範圍內提供與稀釋倍數呈現良好線性關係的濃度測量結果, 這證實了單顆粒逐個通過孔洞的粒子濃度測量準確性並與透過整體訊號強度推斷濃度的集合測量技術形成了鮮明對比。

Size vs. Zeta potential 粒徑/界達膜電位分佈

Pulsoid可藉由particle-by-particle逐個顆粒的方式同時分析粒徑和Zeta膜電位, 與光學技術相比能提供更具體的表面電位視野; 藉由分析獨立的單顆粒方式, 電位分佈和其亞群解析可比用平均換算一個數值的方式更有效。
對於配方開發、穩定性和製程相關變化的監控, 特別是用其他技術分析會有誤差的"高異質性"樣本, Pulsoid這種直接且單顆粒的方式更可以達到更清晰的視角。

單顆粒的Zeta potential膜電位/Diameter粒徑分析測量可以顯示出不同亞群體的差異。

LNP顆粒和 NIST 可追朔聚苯乙烯標準品的 Zeta 電位分佈圖, 其顯示出有明顯的區別和窄的電荷分佈。

Lipid Nanoparticle, LNP脂質奈米顆粒的最佳應用

LNP(脂質奈米顆粒), AAV(腺病毒), Exosome(外泌體)/EVs(細胞外囊泡)

左圖為在不同儲存條件下的LNP脂質奈米粒徑分佈。
在藥物傳遞和基因治療上, 脂質奈米顆粒(LNP)的開發需求對研究人員來說非常關鍵, 例如LNP, Adeno-associated viruses, Exosome/Extracellular vesicles等, 在這些樣本中, Pulsoid可偵測微小但有意義的顆粒分佈變化; 只有高解析力+單顆粒分析的Pulsoid才能夠分辨出顆粒尺寸分佈的細微變化，包括團聚、不穩定性、儲存條件或加工效應引起的改變。
重要的是, 這種看法並非僅限於粒徑特性而是結合了粒徑+濃度+Zeta膜電位, Pulsoid可提供隨時間變化的研發配方特性與穩定度訊息。

綜上所述, 如果您對Pulsoid(NPS)單顆粒奈米粒徑/濃度/Zeta膜電位分析儀有興趣更進一步了解, 歡迎和我們聯絡